韓國智慧財產權部發布半導體發明審查基準
2026.08.19
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韓國智慧財產權部 (MOIP) 宣布為半導體產業量身打造特定專利審查基準，因MOIP認為有必要建立能夠反映這些半導體技術特性的明確標準。雖然基準與一般的審查實務並無實質差異，但特別提供半導體領域的具體範例，以協助申請人準備該領域的韓國申請案。以下摘錄審查基準內容。
可據以實施要件：
發明須在說明書中清楚且具體地描述，使所屬技術領域中具有通常知識者 (PHOSITA)能夠輕易實施該發明。基準強調，PHOSITA須能在不「增加特殊知識」的情況下，準確理解並重現該發明。
不符可據以實施要件之範例：基準提供不符合可據以實施要件的範例，如下：
可據以實施要件：
發明須在說明書中清楚且具體地描述，使所屬技術領域中具有通常知識者 (PHOSITA)能夠輕易實施該發明。基準強調，PHOSITA須能在不「增加特殊知識」的情況下，準確理解並重現該發明。
不符可據以實施要件之範例：基準提供不符合可據以實施要件的範例，如下：
- 缺乏支持的申請組態。
- 技術上不可能實現的程序。
申請專利範圍記載要件：專利申請案中的所有請求項必須受說明書支持，且須清楚簡潔。
不符合支持要件之範例：基準提供不符合支持要件的範例，如下：
- 缺乏支持的請求項術語。
- 遺漏或擴大必要技術特徵。
不符合明確性要件之範例：提供請求項未能滿足明確性要件的範例，如下。
- 範疇不明確。
- 不確定的相對性用語，例如使用「高／低」、「適當」等用語。
- 相關請求項之間的技術內容不一致。
新穎性／進步性要件：基準提供發明具備進步性的範例。
- 先前技術缺乏具體細節或效果。
- 不同的問題解決原理。
不符合進步性要件之範例：基準提供否定申請發明進步性的範例，如下：
- 將一般常識應用於先前技術即可輕易推導。
- 同技術領域間顯而易見的材料替換。
以製法界定之物品請求項 (PBP請求項)：
- 評估基準：基於最終產品的結構或性質評估專利性，而非僅基於其製造方法。
- 不具新穎性之範例：若製造方法未改變產品的結構，則該發明不具新穎性。例如雖然標註孔洞是透過鑽孔形成，但結構與現有孔洞相同，則不具新穎性。
資料來源：MOIP Publishes Examination Guidelines for Semiconductor Inventions, Kim & Chang, August 11, 2026.
<https://www.ip.kimchang.com/en/insights/detail.kc?sch_section=4&idx=35361>
