智慧局於114年於產業專利知識平台試行「本國設計專利以圖找圖」功能(beta版),其中收錄自民國102年起公告之設計專利案件。功能特色如下:
1. 圖片上傳與比對:使用者上傳圖片進行相似檢索時,系統會自動框選圖樣並用紅框標示。
2. 局部裁切檢索:除比對完整圖式,亦可使用裁切工具,針對特定部分進行檢索。
3. LOC分類檢索:支援輸入國際工業設計分類號 (LOC),結合圖像與分類雙重檢索。
4. 多重篩選條件:檢索結果可依發明人、申請人、公開年度與 LOC 進一步篩選。
1. 圖片上傳與比對:使用者上傳圖片進行相似檢索時,系統會自動框選圖樣並用紅框標示。
2. 局部裁切檢索:除比對完整圖式,亦可使用裁切工具,針對特定部分進行檢索。
3. LOC分類檢索:支援輸入國際工業設計分類號 (LOC),結合圖像與分類雙重檢索。
4. 多重篩選條件:檢索結果可依發明人、申請人、公開年度與 LOC 進一步篩選。
資料來源:本局產業專利知識平台新增「本國設計專利以圖找圖」功能beta版對外開放試行,經濟部智慧財產局,114年9月24日。
<https://www.tipo.gov.tw/tw/tipo1/799-60537.html>